技术介绍 基于全新在线传感技 术的智能工艺优化 作者：Urs Duebendorfer 许多类似“食品安全”、“ 可追溯性”或是“最佳做法”的 焦点话题对于面粉生产者们来说 是一种挑战。如何找到方法去满 足这些要求是一个经常听到的问 题。现在，操作人员通过使用在 线传感智能自动化就可以获得额 外的资源。 最新开发的NIR（近红外）在 线分析仪和在线粒度分析仪就是 可以完成这项任务的解决方案。 实时成分测量 多年来，NIR在线分析仪一 直用于对粮食加工业的原料和成 品中成分的连续监测。但很多时 候，投资带来了诸多限制，就比 如监测点的选择。 图1：安装在现代化面粉厂的NIR（远红 外）多路在线解决方案 36 为了拓宽监测的应用范围， 布勒开发了新一代的NIR（近红 外）在线检测仪。通过引进这种 所谓的多路复用技术，面粉生产 者就能够在有限的投资下实现多 点测量。一个光谱仪能够评估多 达六个的不同测量点。当然了， 这个测量设备本身运用了最先进 的二极管阵列技术。 全线工艺优化 NIR（近红外）在线多路检 测仪的优势是显而易见的：一台 中央光谱仪可以对多种不同的产 品，如谷物、面粉和副产品进行 实时分析。多达六个的独立测量 点为实现生产运行的智能控制提 供了基础。 NIR（近红外）检测仪持 续提高了产品质量，并且成为 了衡量一个面粉厂盈利能力的 衡量标准。可以通过使用控制 回路，使某些参数尽可能地 接近临界值从而实现利润最大 化。NIR（近红外）在线多点检 测仪通过控制功能提供了降低 安全系数和更加迅速反应工艺 波动的选项。因此，在样品数 量和实验室分析减少的同时， 也优化了用于品质保证的成本。 无缝分析和可追溯性 使用NIR多路在线检测仪可以 图2：安装在面粉厂的在线粒度测量单元 实现对原料和生产过程中的半成 品和成品的最重要的产品参数的 完整分析。 新一代在线NIR分析仪的巨大 优势在于，它的工业适用性提高 了。只有测量点是位于生产区域 内的，而控制室或电动机控制中 心（MCC）则为光学和电子元器件 提供了更优的环境。紧凑的测量 点非常适用于已投产工厂的升级 改造。 制粉工艺也迎来了革命性的 技术突破。现在推出的在线粒 度测量系统MYTA被用于对10 – 2013年7月 / 世界谷物 / www.World-Grain.comhttp://www.World-Grain.com